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人工智能

Mentor Tessent DFT 解決方案助力Enflame打造針對(duì)神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)訓(xùn)練的云端 AI 芯片

ainet.cn   2019年12月30日

  · Mentor 的 Tessent 可測(cè)試性設(shè)計(jì) (DFT) 技術(shù)幫助 Enflame 顯著縮短設(shè)計(jì)周期,有效降低測(cè)試成本

  · Enflame AI芯片在bring-up階段通過(guò)使用Tessent 軟件在7天之內(nèi)順利完成

  西門(mén)子旗下業(yè)務(wù)Mentor近日宣布,領(lǐng)先的人工智能 (AI) 解決方案提供商燧原科技( Enflame Technology) 使用其 Tessent? 軟件產(chǎn)品系列滿足公司硅測(cè)試要求,并助力其最新的 Deep Thinking Unit (DTU) 芯片-快速實(shí)現(xiàn)測(cè)試的調(diào)試階段。

  Enflame剛剛發(fā)布的DTU 芯片專門(mén)針對(duì)于數(shù)據(jù)中心的深度學(xué)習(xí)訓(xùn)練,能夠有效降低AI 應(yīng)用程序在云端和企業(yè)數(shù)據(jù)中心中的加速成本,同時(shí)為其他訓(xùn)練任務(wù)提供更優(yōu)性能。

  Enflame總部位于中國(guó)上海,通過(guò)開(kāi)發(fā)深度學(xué)習(xí)的軟件堆棧和加速器SoC,為全球數(shù)據(jù)中心和云服務(wù)提供商提供 AI 訓(xùn)練平臺(tái)解決方案。

  Enflame Technology SoC DFX 總監(jiān) Iris Ma 表示:“Tessent 工具有助于加快從設(shè)計(jì)、驗(yàn)證到物理設(shè)計(jì)的 DFT 開(kāi)發(fā)和調(diào)試周期,隨著大型 AI 芯片尺寸的不斷增長(zhǎng),這一點(diǎn)變得愈加重要。Tessent 基于RTL級(jí)hierarchical DFT的能力為實(shí)現(xiàn)DFT和測(cè)試向量的自動(dòng)生成(ATPG)提供了理想的解決方案,它不僅適用于我們的現(xiàn)階段設(shè)備,也可以應(yīng)用于尺寸更大的下一代芯片。”

  在開(kāi)發(fā)其新的 DTU 芯片時(shí),Enflame 需要借助 DFT 解決方案來(lái)最大程度地降低測(cè)試成本,降低每十億件產(chǎn)品缺陷率 (DPPM),并縮短產(chǎn)品的上市時(shí)間;而該芯片的設(shè)計(jì)采用了超大尺寸,集成了超過(guò) 100 億個(gè)晶體管,并集成了采用 2.5D 封裝以 12nm 工藝制造的高帶寬存儲(chǔ)器 (HBM)2,這些條件對(duì)Enflame滿足以上需求提出了嚴(yán)苛挑戰(zhàn)。

  Enflame Technology 的首席運(yùn)營(yíng)官 Arthur Zhang 表示:“Mentor 的 Tessent DFT 和 Calibre 物理驗(yàn)證工具在我們DTU AI 芯片的開(kāi)發(fā)過(guò)程中發(fā)揮了關(guān)鍵作用,這款芯片包括 480mm2 原始芯片和采用 2.5D 封裝的 HBM2。在Mentor Tessent 產(chǎn)品的幫助下,我們很快完成了調(diào)試階段,在 7 天之內(nèi)就拿回了 ASIC。所有的 DC/AC 掃描、-存儲(chǔ)器內(nèi)建自測(cè)試、邊界掃描和模擬測(cè)試均無(wú)差錯(cuò)完成。此外,所有晶圓分類、FT以及SLT 都是自動(dòng)化的,初始良率與鑄造指數(shù)一致,與實(shí)驗(yàn)室結(jié)果也保持相同。我們十分感謝 Mentor 出色的工具質(zhì)量、卓越的創(chuàng)新以及始終如一的支持?!?/P>

  Mentor 的 Tessent 軟件是市場(chǎng)領(lǐng)先的 DFT 解決方案,能夠幫助公司實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試質(zhì)量、更低的測(cè)試成本和更快的良率提升。基于RTL的-hierarchical DFTTessent和Tessent Connect自動(dòng)化具有一系列技術(shù)特點(diǎn),可以用于應(yīng)對(duì) DFT 實(shí)施和 AI 芯片架構(gòu)中的向量生成挑戰(zhàn)。這些技術(shù)有助于避免 DFT 配置導(dǎo)致生產(chǎn)進(jìn)度延誤,而此類問(wèn)題在AI處理等新興市場(chǎng)中十分常見(jiàn)。

  “現(xiàn)在,人工智能的硬件加速是一個(gè)競(jìng)爭(zhēng)激烈且發(fā)展迅速的市場(chǎng)。因此,縮短上市時(shí)間是該市場(chǎng)中許多客戶的主要關(guān)注點(diǎn),”Mentor, a Siemens business 的 Tessent 產(chǎn)品系列副總裁兼總經(jīng)理 Brady Benware 介紹,“這一領(lǐng)域的公司之所以會(huì)選擇 Tessent,是因?yàn)樗哂邢冗M(jìn)的hierarchical DFT 方法和 Tessent Connect 自動(dòng)化功能,二者能夠共同為大規(guī)模并行架構(gòu)提供高效的測(cè)試執(zhí)行。此外,Tessent 中的 SiliconInsight 調(diào)試和特征提取功能還可以幫助用戶在silicon bring-up階段避免代價(jià)高昂的延遲問(wèn)題?!?/P>

(轉(zhuǎn)載)

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