ASI Robicon公司是領(lǐng)先的高功率固態(tài)變頻驅(qū)動(dòng)制造商，支持高達(dá)20000HP的控制工業(yè)交流電機(jī)，輸入電壓高達(dá)13,800V。本案例將詳細(xì)介紹ASI公司的現(xiàn)場工程師在其30多年職業(yè)生涯中開發(fā)的電容測試方法。

　　ASI公司的水冷變頻驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)

　　測量工具：Fluke 1550C高壓絕緣電阻測試儀

　　操作人員：ASI Robicon，大功率變頻驅(qū)動(dòng)器制造商

　　測試對象：可控硅整流器、IGBT開關(guān)、電容

可控硅整流器電壓測試

　　Fluke 1550C高壓絕緣電阻測試儀能夠快速確定大功率固態(tài)電源中非線性裝置的質(zhì)量薄弱環(huán)節(jié)，如SCR (可控硅整流器半導(dǎo)體)和IGBT大功率器件。

　　一般的固態(tài)元件測試儀采用低壓、低電流測試源，通常無法定位損壞的元件，而且在負(fù)載下可能會(huì)崩潰。

　　測試方法

　　1. 將元件與其所有連接隔離開，確保讀數(shù)準(zhǔn)確。

　　2. 在1550C上設(shè)置高壓，開始測試并記錄讀數(shù)。

　　讀數(shù)示例

　　測試結(jié)果

　　● 在測試正向偏壓和反向偏壓(陽極至陰極)時(shí)，如果可控硅整流器已損壞，讀數(shù)會(huì)呈現(xiàn)較大的差異。

　　● 新可控硅整流器在兩個(gè)方向的讀數(shù)幾乎相等(大約100 MΩ)

　　● 如果高功率可控硅整流器的讀數(shù)低于5 MΩ，則表示已損壞，應(yīng)該將其廢棄。

　　· 如果可控硅整流器在一個(gè)方向上的讀數(shù)為50 MΩ至200 MΩ，在另一個(gè)方向上為10 MΩ至50 MΩ (差異達(dá)到4:1)，很可能會(huì)在帶載時(shí)自鎖(而不是在預(yù)期觸發(fā)點(diǎn)及時(shí)觸發(fā)，將會(huì)隨機(jī)觸發(fā))。這種情況會(huì)在電源中引起極端的電流脈沖，會(huì)造成被供電的直流電機(jī)中發(fā)生換向器閃絡(luò)。

可控硅整流器熱實(shí)驗(yàn)

　　如果元件已發(fā)生物理性損壞，則需要將其實(shí)際取出來，進(jìn)行熱測試。

　　測試方法

　　1.將Fluke 1550C設(shè)置為裝置的實(shí)際額定電壓。480V VFD (變頻驅(qū)動(dòng))上使用的大多數(shù)ASI 可控硅整流器的額定值為1400V。在中壓(2300V和4160V)驅(qū)動(dòng)上也串聯(lián)使用3000 V裝置。

　　2.裝置溫度較低時(shí)，讀取正向和反向2個(gè)讀數(shù)。

　　3.在高溫箱中將元件加熱到180 °F，并重復(fù)進(jìn)行測試。

　　測試結(jié)果

　　如果泄漏電流高達(dá)50%或更大，則必須將裝置廢棄。

　　ASI公司在維修可控硅整流器電源時(shí)，其目標(biāo)是最大程度降低故障和停工時(shí)間，而非將維修的零件成本最小化。

　　“傳統(tǒng)上測試可控硅整流器時(shí)，如果沒有完全短路，則認(rèn)為沒有問題。這種假定是完全錯(cuò)誤的。”——ASI公司現(xiàn)場工程師

　　任何裝置在達(dá)到其額定電壓時(shí)，如果讀數(shù)表現(xiàn)為變化、波動(dòng)、不穩(wěn)定，都應(yīng)認(rèn)為即將發(fā)生故障，并將其隔離。讀數(shù)不穩(wěn)定表示內(nèi)部電弧損壞，或者半導(dǎo)體本身鎖死/導(dǎo)通。

IGBT開關(guān)裝置測試

　　IGBT開關(guān)裝置也可以進(jìn)行熱試驗(yàn)，但由于負(fù)阻特性二極管的原因，只能在一個(gè)方向(正向)進(jìn)行檢查。也可以對高功率二極管進(jìn)行熱試驗(yàn)(比較低溫和高溫讀數(shù)的變化)。一般而言，與可控硅整流器相比(讀數(shù)一般為200MΩ至700MΩ)，二極管的電阻高得多、漏電流小得多。

　　如果可控硅整流器的讀數(shù)在兩個(gè)方向均為20MΩ，則沒有問題;但如果一個(gè)方向讀數(shù)為80MΩ，而另一方向?yàn)?0MΩ，則表示即將失效。全新的可控硅整流器的讀數(shù)通常在兩個(gè)方向均為100MΩ至200MΩ，兩個(gè)方向的差異在50%之內(nèi)。

電容測試

　　使用Fluke 1550C的可調(diào)電壓功能還可以測試高壓電容。

　　測試方法

　　對幾個(gè)完全相同的電容進(jìn)行充電，并比較將其充電到相似讀數(shù)所需的時(shí)間。

　　讀數(shù)示例

　　測試結(jié)果

　　● 如果電容充電極其快，則可能已經(jīng)開路。

　　● 如果讀數(shù)上、下反復(fù)，則表示電容內(nèi)部可能發(fā)生閃絡(luò)。

　　如遇到以上情況，請拆下并更換裝置。

　　通過在定期使用1550C對元件進(jìn)行預(yù)測性維護(hù)，現(xiàn)場工程師能夠及時(shí)發(fā)現(xiàn)有瑕疵的元件，防止其失效。預(yù)防早期故障能為ASI公司和其客戶節(jié)省時(shí)間和金錢。

　　推薦型號

　　Fluke 1550C FC絕緣電阻值測試儀

　　最高達(dá)5000V測試電壓

　　極化指數(shù)/介質(zhì)吸收比自動(dòng)計(jì)算

　　遠(yuǎn)程控制功能

（轉(zhuǎn)載）