雷尼紹新型SEM-拉曼聯(lián)用接口

　　inLux用于將高性能的拉曼光譜分析能力(包括結(jié)構(gòu)和化學(xué)分析)，增添到掃描電子顯微鏡 (SEM) 內(nèi)部。在SEM上連接inLux接口，便可實(shí)現(xiàn)同時(shí)、原位執(zhí)行SEM分析和拉曼光譜分析。

　　inLux接口應(yīng)用廣泛，通過(guò)拉曼與SEM關(guān)聯(lián)分析，可以獲得豐富詳實(shí)且互為補(bǔ)充的信息。無(wú)論您需要材料的高倍率圖像，還是更詳實(shí)的化學(xué)和結(jié)構(gòu)信息，將這些技術(shù)結(jié)合在一起可以滿足各種各樣的分析需求。

　　inLux采用絕對(duì)式光柵提供防撞保護(hù)，從而確保inLux的探頭不會(huì)與任何SEM附件發(fā)生碰撞。您無(wú)需移動(dòng)樣品，只需移動(dòng)探頭，能夠針對(duì)樣品上超過(guò)500 μm3的區(qū)域生成圖像。各行各業(yè)的研究人員都能夠通過(guò)inLux接口受益。

（轉(zhuǎn)載）