在電子制造領(lǐng)域，測量技術(shù)的精度與效率是品質(zhì)把控的關(guān)鍵。ZEISS CALYPSO軟件不斷推陳出新，從2019年到2023年，其新增功能如圖像保存、曲線邊緣識別、自定義光照設(shè)置名稱以及自定義自動聚焦窗口尺寸等，為電子行業(yè)測量帶來了顯著的變革，助力企業(yè)提升品質(zhì)管控水平與智能制造效率，推動行業(yè)高質(zhì)量發(fā)展。

功能簡述

自定義自動聚焦窗口尺寸 (2023版本新增)

功能場景

針對微小特征或密集排列的元件(如芯片焊點)，通過縮小窗口聚焦局部區(qū)域，避免周圍結(jié)構(gòu)干擾，提升測量精度。

在檢測多尺寸元件(如PCB板)時，動態(tài)調(diào)整窗口適配不同目標，提高檢測效率。

避開眩光或反光區(qū)域(如玻璃、鏡面)，選擇低干擾區(qū)域聚焦，減少光學(xué)噪影影響。

功能價值

突破傳統(tǒng)聚焦局限，通過靈活適配被測物特征，優(yōu)化聚焦精度與效率，提升復(fù)雜場景下的測量可靠性，助力品質(zhì)嚴控與智造提效。

功能簡述

自定義光照設(shè)置名稱(2022版本新增)

功能場景

產(chǎn)品多樣化，面對復(fù)雜的測量任務(wù)，無法區(qū)分不同的光源設(shè)置。這就使得在重復(fù)測量或者切換測量區(qū)域時，操作人員需要花費大量時間去逐個嘗試不同的光照設(shè)置，不僅降低了工作效率，還極易因設(shè)置錯誤而導(dǎo)致測量數(shù)據(jù)出現(xiàn)偏差，嚴重影響產(chǎn)品質(zhì)量檢測的準確性和穩(wěn)定性，

功能價值

光照設(shè)置自定義命名，避免重復(fù)調(diào)試，確保測量準確性。提升多區(qū)域測量光照設(shè)置效率，降低人為誤操作風(fēng)險，為復(fù)雜結(jié)構(gòu)檢測，提供多樣選擇。

功能簡述

曲線邊緣識別(2021版本新增)

功能場景

產(chǎn)品區(qū)域多邊界識別，AOI搜索范圍必要增大，可能會導(dǎo)致錯位識別。

CALYPSO可以通過邊緣類型：調(diào)整光的識別方向，由暗到亮(增加)或者由亮到暗(減少)

邊緣號：調(diào)整按邊緣識別，按名義值識別，按最陡區(qū)域識別

功能價值

通過動態(tài)調(diào)整光方向(明暗梯度)與邊緣判定邏輯(名義值/最陡區(qū)域)，在多邊界復(fù)雜場景中實現(xiàn) “精準狙擊”。 從“被動識別”轉(zhuǎn)向“主動適配”，為多特征混雜的精密工件，提供多樣選擇。

功能簡述

圖像保存 (2019版本新增)

功能場景

質(zhì)量檢測中的留檔和追溯，保存圖像便于用戶檢測后隨時查看實際情況，在質(zhì)量爭議(如客戶投訴)時可作證據(jù)。圖像保存對過程監(jiān)控也很重要，如長時間測量中通過圖像對比觀察產(chǎn)品磨損、變形等狀態(tài)變化。此外，圖像還可用于培訓(xùn)或報告生成，用實際案例助新員工理解缺陷模式，或在報告中直觀展示測量結(jié)果。

功能價值

保存圖像能提升數(shù)據(jù)可追溯性和透明度，減少人為誤判。圖像輔助分析可提高測量準確性，如通過后期圖像處理確認邊界識別是否正確。圖像還可作為知識庫積累，助于優(yōu)化測量策略，如分析歷史圖像常見缺陷來調(diào)整檢測參數(shù)。

（來源：蔡司）