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測試測量

基恩士推出集顯微鏡?SEM?粗糙度儀的功能于一身的VK-X100/X200 系列激光顯微系統(tǒng)

ainet.cn   2012年03月27日

        3月27日,工業(yè)自動化領域,銷售傳感器、測量儀器、顯微系統(tǒng)以及邏輯控制系統(tǒng)的供應商,日本知名企業(yè)基恩士在北京召開了媒體見面會。會上指出將加強在中國市場「形狀測量激光顯微系統(tǒng) VK-X100/X200 系列」的銷售。VK-X100/X200 系列1臺機器便可以實現(xiàn)無與倫比的高分辨率大范圍形狀測量。

        「形狀測量激光顯微系統(tǒng) VK-X100/X200 系列」的特點如下;

        ?高分辨率,大景深觀察
        (1) 高分辨率, 最大放大24000 倍
        (2) 完全聚焦的清晰圖像
        (3) 符合溯源性要求

        ?仿佛彩色 SEM
        (1) 16 bit 激光彩色觀察
        (2) 放置并且測量,您可以在幾秒鐘內進行分析
        (3) 可拆卸測量頭單元允許各種尺寸的樣品測量。可拆卸測量頭單元可以與其他設備整合并支持遠程操作。

        ?無損輪廓和粗糙度測量
        (1) 非接觸式設計,可用于測量軟質的工件
        (2) 方便定位測量區(qū)域
        (3) 激光光束波長比表面粗糙度測量直徑小

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(轉載)

標簽:基恩士 顯微鏡?SEM?粗糙度儀 VK | X100 | X200 系列 激光顯微系統(tǒng) 我要反饋 
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