可知?如今生活中充斥著各種電子產(chǎn)品，它們?cè)O(shè)計(jì)精巧且功能強(qiáng)大，高密度電路板線路之間僅有數(shù)微米的距離通過(guò)肉眼無(wú)法檢測(cè)是否出現(xiàn)短路、斷路等問(wèn)題，必須依靠精密的AOI設(shè)備進(jìn)行檢測(cè)。

　　AOI(自動(dòng)光學(xué)檢測(cè))設(shè)備被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制程、電路板組裝、顯示面板制程、LED以及各種工業(yè)自動(dòng)化等工業(yè)領(lǐng)域。臺(tái)灣廠商開(kāi)發(fā)的AOI設(shè)備無(wú)論在性能還是穩(wěn)定性方面在業(yè)界都具有相當(dāng)強(qiáng)的競(jìng)爭(zhēng)實(shí)力。

　　臺(tái)灣捷智科技股份有限公司(JET)，多年來(lái)為業(yè)界提供先進(jìn)的自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)方案，他們最新開(kāi)發(fā)的用于SMT(表面貼片技術(shù))生產(chǎn)線的AOI檢測(cè)設(shè)備采用雷尼紹ATOM?系列超微型光柵來(lái)確保系統(tǒng)性能的穩(wěn)定性。

　　AOI 工作原理

　　AOI 設(shè)備主要部分包括：光源、取像系統(tǒng)、機(jī)電及運(yùn)動(dòng)控制系統(tǒng)和圖像處理分析軟件等。主要是利用CCD攝像頭采集被測(cè)對(duì)象影像，將圖像識(shí)別法與實(shí)際參考圖像進(jìn)行比對(duì)，經(jīng)過(guò)復(fù)雜的演算和分析來(lái)識(shí)別檢測(cè)組件是否合格。當(dāng)今電子產(chǎn)品日益趨向精密微型化，在運(yùn)動(dòng)控制技術(shù)層面上，光柵的分辨率或速度必須滿足設(shè)備的要求方能確保設(shè)備在短時(shí)間內(nèi)完成檢測(cè)工作。

　　JET公司AOI部門(mén)經(jīng)理吳曉暉博士介紹ATOM光柵在新款A(yù)OI設(shè)備上的應(yīng)用時(shí)說(shuō)：“這款A(yù)OI設(shè)備的結(jié)構(gòu)屬于龍門(mén)架式，Y軸(橫向)以線性馬達(dá)驅(qū)動(dòng)固定在Y軸(橫向)的CCD攝像頭上，行程約為600-800mm。位置反饋系統(tǒng)采用ATOM 40 μm柵距光柵，通過(guò)ATOM RI接口輸出1 μm分辨率的數(shù)字反饋信號(hào)，X軸(縱向)則以滾珠螺桿驅(qū)動(dòng)，檢測(cè)進(jìn)行時(shí)攝像頭在每隔6 μm的移動(dòng)距離(縱向)上，以橫向方式掃描被測(cè)對(duì)象，最終合成完整圖像。 ”

JET高性能AOI設(shè)備

RGH光柵系列在AOI設(shè)備上的應(yīng)用

　　攝像頭在移動(dòng)時(shí)的平穩(wěn)流暢度能夠確保系統(tǒng)所采集圖像的完整性，光柵的細(xì)分誤差 (SDE) 對(duì)攝像頭移動(dòng)的流暢度有著決定性影響。ATOM系列光柵的細(xì)分誤差低至±75 nm， 足以滿足絕大部分中高端掃描應(yīng)用。

　　讀數(shù)頭精巧 靈活性高

　　JET目前所生產(chǎn)的AOI設(shè)備的掃描和空載移動(dòng)速度分別達(dá)300 mm/s和600 mm/s，檢測(cè)的重復(fù)精度為 ±5 μm。

　　吳博士說(shuō)：“當(dāng)初開(kāi)發(fā)新機(jī)臺(tái)時(shí)適逢ATOM光柵系列的推出，印象最深的是該讀數(shù)頭結(jié)合了微型設(shè)計(jì)和高端規(guī)格，節(jié)省占用空間且性能得以提升。我們采用該光柵，到目前為止ATOM的性能依然十分穩(wěn)定?！盇TOM讀數(shù)頭最小尺寸僅為6.7 x 12.5 x 20.5 mm，通過(guò)外接細(xì)分接口盒進(jìn)行信號(hào)細(xì)分，這種分離式設(shè)計(jì)不但實(shí)現(xiàn)了讀數(shù)頭的微型化，而且增加了JET在設(shè)備設(shè)計(jì)上的靈活度。吳博士繼說(shuō)：“分離式接口設(shè)計(jì)允許我們?cè)诮M裝追加設(shè)備訂單或更新系統(tǒng)時(shí)有更大的靈活性，譬如說(shuō)在更新時(shí)僅需更換接口盒，從而提升系統(tǒng)分辨率而無(wú)需作對(duì)機(jī)械部分進(jìn)行任何修改?！?/FONT>